APPLICATION
光电检测
★LED晶粒(封装前)检测设备★
◆解决方案1. 动态热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)
在LED灯具检测设备中，光谱量测首重温飘稳定性。因为环境温湿度变动所造成的波长偏移，将影响从光谱计算而来的CIE色度与亮度(Y值)之稳定性和精度，进而大大降低LED灯具检测参考价值。 OtO 光谱仪拥有非常优异的热稳定性，其中温飘稳定度足以媲美欧美大厂，仅有0.027nm/℃，Y值的变动仅±0.5%。我们独有的动态热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)，是在优化光学与机构系统设计下实现， 提供无温控环境下之精确量测，取代过去庞大且昂贵的LED检测设备，使得客户得以在产线上广布检测设备，全面确保产品品质。
◆解决方案1. 动态热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)
在LED灯具检测设备中，光谱量测首重温飘稳定性。因为环境温湿度变动所造成的波长偏移，将影响从光谱计算而来的CIE色度与亮度(Y值)之稳定性和精度，进而大大降低LED灯具检测参考价值。 OtO 光谱仪拥有非常优异的热稳定性，其中温飘稳定度足以媲美欧美大厂，仅有0.027nm/℃，Y值的变动仅±0.5%。我们独有的动态热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)，是在优化光学与机构系统设计下实现， 提供无温控环境下之精确量测，取代过去庞大且昂贵的LED检测设备，使得客户得以在产线上广布检测设备，全面确保产品品质。
◆解决方案2. 消杂散光演算法
对于LED晶粒(封装前)检测设备，OtO成功开发的「消杂散光演算法」，可在建立LED强度校正系数前先行扣除杂散光。杂散光经过该软件校准后，与德国IS标准机比对晶粒亮度误差仅R2=0.999以上，杂散光比例可从0.15%降至0.01%！ 优异一致性与大幅提升量测准确度，更获LED全球晶粒生产前三大厂采用。 OtO致力于以卓越的技术，将光谱仪应用到高阶LED检测系统中。
◆解决方案3. OtO独家8种高速曝光模式
根据不同应用及情境，OtO光谱仪撷取光谱的方式大致可分为：1.连续/不连续；2. 软件/硬件触发;3. 相同/不同积分时间，因而可组合出8种曝光模式，最大弹性满足使用者的量测需求。
在LED工业线上检测，使用者需先设定「不连续- 硬件触发- 相同或不同积分时间曝光模式」，以每一个LED灯作为硬件触发信号，并事先在软件上设定1000组曝光时间列表，便可依序得到这1000个LED灯的光谱数据，实现LED自动化线上检测。
◆解决方案4. 可依需求扩充至8个GPIO！
◆推荐机种